KITA 高频半导体测试探针，标准螺距 0.30mm，GSG 排布，面向芯片、半导体器件高频电性测试，适配高频宽带测试场景，具备低阻抗、低插入损耗、高带宽特性，满足半导体芯片量产验证需求。深圳纳加霍里科技提供选型与供货对接。
核心型号区分
KHW030‑00IC2 —— 机械规格版本料号（弹力、行程、寿命参数）
KHW030‑002RI —— 完整高频电气规格料号（射频参数、阻抗、带宽）
机械规格
探针间距：0.30 mm
有效工作行程：0.701 mm（0.0276 inch）
下压弹力：17 gf（0.60 oz）
额定使用寿命：150,000 次循环（额定工作行程工况）
器件侧行程平均值：0.4 mm（0.0157 inch）
使用温度范围：‑40 ℃ ~ +120 ℃
电气高频参数
持续额定电流：0.8 A
直流电阻：10 mΩ（公差 ±0.02 mΩ）
自感值：0.83 nH
‑1dB 带宽：29.2 GHz
排布结构：GSG（地‑信号‑地）
配套提供：插入损耗曲线、弹力曲线图、寿命验证测试数据
材质与表面镀金处理
顶部顶针：铍铜，镀金合金镀层
底部顶针：铍铜，镀金
套筒：合金基材，镀金
弹簧：乐器钢丝，镀金
典型应用场景
半导体芯片测试、射频器件高频验证、PCB 微针测试台、晶圆 / 模组电性检测、高速信号器件量产测试，适合小间距 0.3mm 精密探针卡、测试治具开发。
粤公网安备44030602001861号
