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【名称】KITA半导体高频测试探针间距 0.35 mm长度 7.2 mm
【产品型号】 KHW035‑003RID,KHW035‑00IC2
【产品价格】0.00
【品牌】KITA
KITA半导体高频测试探针间距 0.35 mm长度 7.2 mm KHW035‑003RID,KHW035‑00IC2 KITA

KITA半导体高频测试探针间距 0.35 mm长度 7.2 mm
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KITA 半导体高频测试探针 KHW035‑003RID / KHW035‑00IC2 

KITA 半导体高频测试探针KHW035‑003RID / KHW035‑00IC2 

KITA 半导体高频测试探针 KHW035‑003RID / KHW035‑00IC2 


KITA 高频半导体测试探针,探针间距 0.35 mm,整体长度 7.2 mm,适配半导体芯片、射频器件电性测试,具备大电流承载、高带宽、长寿命特性,用于测试治具、探针卡、模组量产验证。深圳纳加霍里科技提供选型、规格资料与采购对接。

型号区分

KHW035‑00IC2:机械规格参考料号

KHW035‑003RID:完整射频电气规格料号


规格

探针中心间距:0.35 mm

探针总长:7.2 mm

弹簧弹力(工作行程状态):25 gf(0.88 oz)

有效工作行程:0.8 mm(0.0315 inch)

使用寿命:300,000 次循环(额定工作行程)

工作温度范围:‑40 ℃ ~ +140 ℃

器件侧行程参考值:0.6 mm / 0.9 mm / 1.2 mm

电气高频参数

额定持续电流:16 A

直流电阻:10 ~ 100 mΩ

自感:1.35 nH

-1dB 带宽:25.6 GHz

配套测试数据:弹力曲线、插入损耗曲线、寿命测试报告

基材与镀金镀层

上顶针:铍铜,金合金镀层

下顶针:铍铜,镀金

套筒:合金基材,镀金

弹簧:不锈钢基材,镀金

应用场景

半导体芯片测试、射频元器件检测、大电流模组测试、PCB 高速信号测试台、自动化测试治具,适合 0.35mm 微间距量产测试工位。

深圳纳加霍里科技可提供完整 PDF 规格书、尺寸图纸、测试曲线,批量询价

KITA KHW035‑003RID,KHW035‑00IC2,0.35mm 间距高频探针,7.2mm 半导体测试探针,25.6GHz 射频探针,16A 大电流探针,30 万次寿命测试顶针,


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