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简单介绍

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【名称】KITA KNS系列开尔文高频测试探针
【产品型号】KNS025‑00IWP
【产品价格】0.00
【品牌】KITA
KITA KNS系列开尔文高频测试探针 KNS025‑00IWP KITA

系列型号:KNS025‑00IWP,KJS030-00IW1,KJS030-002NW2,KHS040-009WI,KHS040-0I0NW2,KHS050-0IIWI,KHS050-012NW2

KITA KNS系列开尔文高频测试探针
产品产商:
会员价格:0.00
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KITA KNS 系列开尔文高频测试探针,系列型号:KNS025‑00IWP,KJS030-00IW1,KJS030-002NW2,KHS040-009WI,KHS040-0I0NW2,KHS050-0IIWI,KHS050-012NW2

KITA KNS 系列开尔文高频测试探针,系列型号:KNS025‑00IWP,KJS030-00IW1,KJS030-002NW2,KHS040-009WI,KHS040-0I0NW2,KHS050-0IIWI,KHS050-012NW2

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基础尺寸规格(多 间距 可选)

间距 0.25mm|总长 4.15mm,探针直径 0.15mm(KNS025‑00IWP)

间距 0.30mm|总长 4.5mm

间距 0.40mm|总长 3.9mm

间距 0.50mm|总长 5.5mm

机械参数(KNS025‑00IWP)

有效工作行程:0.3 mm

测试弹力:14 gf

机械寿命:80,000 次循环

工作温度:‑40 ℃ ~ +120 ℃

材质镀层

顶部顶针:钯合金

底部顶针:钢材,镀金

套筒:无镀层合金基材

预压弹簧:琴钢丝,镀金

电气高频性能

额定持续电流:0.7 A

直流电阻 ≤ 0.020 Ω

自感值:1.10 nH

-1dB 带宽:50.0 GHz,适配高速高频测试

接触方式:开尔文 4 端子测试结构(一对探针接触器件同一引脚,实现低阻高精度测量)

适配封装与应用QFN、DFN、BGA、LGA 微小间距半导体芯片;高精度阻抗测试、开尔文四线测量、高频高速芯片测试插座、探针卡治具。提供 0.25 / 0.3 / 0.4 / 0.5mm 多种间距选型。

KNS025‑00IWP,开尔文高频探针,50GHz 半导体测试探针,0.25mm 间距弹簧探针,四线测试探针,QFN/BGA 芯片探针,KITA 开尔文探针,纳加霍里科技



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