弹簧探针（双端接触探头）内置精密弹簧，整体装配在 IC 测试插座内部，垂直架设在待测半导体器件与测试基板之间，形成电气通路。

接触导通：探针两端分别顶住芯片引脚和测试基板焊盘。下压芯片时，探针头部受力压缩内部弹簧，依靠弹簧弹力，在两端维持稳定、可控的接触压力，保证可靠电气接触，消除接触电阻波动。

缓冲补偿：弹簧可以吸收芯片引脚、基板的平面度偏差、尺寸公差，避免硬接触造成引脚压伤，同时保证多点探针接触压力均匀。

信号传输：探针本体作为导电通路，把芯片的电信号传递到测试基板，完成半导体器件的电性检测。

特点

依托精密加工工艺，实现低接触阻力、高耐用寿命，属于半导体检测标准弹簧探针产品线，衍生多个细分型号：

标准螺距：0.3~1.0mm

细间距：0.15~0.25mm

开尔文 4 端子接触、非磁性、高电流高温型、高频专用探针，适配不同半导体测试工况。