日本KITA半导体器件检测 标准螺距弹簧探针（0.3～1.0mm）

一、产品概述

二、核心产品特色

1、多重镀层工艺，杜绝焊锡渗透污染

2、MARATHON长效系列 贵金属焊头标准化配置

3、全尺寸覆盖，针尖形态高度多样化

4、标准精密螺距，适配半导体微间距检测

标准化0.3mm–1.0mm精密螺距区间，精准覆盖半导体微型化、高密度引脚器件测试场景。间距精度高、针位一致性好，可有效规避偏针、干涉、邻针短路问题，满足精密半导体器件的高精度电性测试标准。

三、核心应用场景

适用于各类半导体芯片、分立器件、IC模组、精密电子元器件的电性导通测试、功能检测、老化测试、量产终检，广泛配套半导体测试插座、精密检测治具、自动化测试设备，是**半导体检测工装的优选标准探针。